第64回治山研究発表会にて優秀賞をいただきました！

9月10日（火）～11日（水）に開催された第64回治山研究発表会において、下記の発表が優秀賞をいただきました。
当社からは、技術本部 技術開発部 技術一課・熊本支店、宇都宮支店、技術本部 技術開発部 技術二課・長野支店から、全3課題の発表（共同発表）でした。今後も技術の研鑽に努めてまいります。

■優秀賞
演　題：干渉SARを活用した監視対象箇所抽出の取組み
発表者：竹村文、龍見栄臣、矢島光一、山田泰弘、伊藤晃